質(zhì)譜分析儀用于監(jiān)測復雜過程的四極氣體分析系統(tǒng)。允許7天24小時連續(xù)監(jiān)測,達到zui大的產(chǎn)額和產(chǎn)量,從而將成本降至zui低。足夠的小型和性能,可安裝在壓強很高的真空室內(nèi)。HexBlock取樣系統(tǒng)的*性能。內(nèi)置CDG,用于過程壓強監(jiān)測和真空聯(lián)鎖。備有可選的校準參考源,用于調(diào)諧和氣體參。封閉的長壽命離子源可在阻擋大多數(shù)腐蝕性和反應性氣體的同時,檢測亞ppm量級的污染物。重量輕,易搬運。
　　
　　質(zhì)譜分析儀以離子源、質(zhì)量分析器和離子檢測器為核心。離子源是使試樣分子在高真空條件下離子化的裝置。電離后的分子因接受了過多的能量會進一步碎裂成較小質(zhì)量的多種碎片離子和中性粒子。它們在加速電場作用下獲取具有相同能量的平均動能而進入質(zhì)量分析器。質(zhì)量分析器是將同時進入其中的不同質(zhì)量的離子，按質(zhì)荷比m/e大小分離的裝置。分離后的離子依次進入離子檢測器，采集放大離子信號，經(jīng)計算機處理，繪制成質(zhì)譜圖。離子源、質(zhì)量分析器和離子檢測器都各有多種類型。質(zhì)譜儀按應用范圍分為同位素質(zhì)譜儀、無機質(zhì)譜儀和有機質(zhì)譜儀；按分辨本領分為高分辨、中分辨和低分辨質(zhì)譜儀；按工作原理分為靜態(tài)儀器和動態(tài)儀器。
　　
　　質(zhì)譜分析儀zui重要的應用是分離同位素并測定它們的原子質(zhì)量及相對豐度。測定原子質(zhì)量的精度超過化學測量方法，大約2/3以上的原子的質(zhì)量是用質(zhì)譜方法測定的。由于質(zhì)量和能量的當量關系，由此可得到有關核結(jié)構與核結(jié)合能的知識。對于可通過礦石中提取的放射性衰變產(chǎn)物元素的分析測量，可確定礦石的地質(zhì)年代。質(zhì)譜方法還可用于有機化學分析，特別是微量雜質(zhì)分析，測量分子的分子量，為確定化合物的分子式和分子結(jié)構提供可靠的依據(jù)。由于化合物有著像指紋一樣的*質(zhì)譜，質(zhì)譜儀在工業(yè)生產(chǎn)中也得到廣泛應用。
　　
　　質(zhì)譜分析是一種測量離子荷質(zhì)比（電荷-質(zhì)量比）的分析方法，可用來分析同位素成分、有機物構造及元素成分等。*臺質(zhì)譜儀是英國科學家弗朗西斯·阿斯頓于1919年制成的。阿斯頓用這臺裝置發(fā)現(xiàn)了多種元素同位素，研究了53個非放射性元素，發(fā)現(xiàn)了天然存在的287種核素中的212種，*次證明原子質(zhì)量虧損。他為此榮獲1922年諾貝爾化學獎。
　　
　　質(zhì)譜分析儀技術特點：帶EM的NDPP在10,000增益和1-秒停留時間下；質(zhì)量數(shù)40對41amu的貢獻；零blast對2amu的貢獻；zui小可檢濃度,氪在空氣中在1-秒停留時間下；低發(fā)射下的線性,在0.1至2倍常規(guī)小孔壓強下；使用總壓強規(guī)管在低發(fā)射下的壓強調(diào)值；低發(fā)射下的總壓強精度；低發(fā)射下離子源zui大工作壓強（燈絲關斷閾值）；在封閉型離子源中2E-4乇,在四極場范圍中將產(chǎn)生約1E-5乇；zui小EM增益在zui大EM電壓下。